基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。
我们的厚度测量仪器提供可靠、简单的操作以及准确的测量。具有功能强大，用户界面良好，从初级水平到双重技术的可扩展型等系列产品可供选择。
