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MAXXI和X-Strata 系列微焦斑XRF光谱仪

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基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。

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CMI系列接触式镀层测厚仪

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我们的厚度测量仪器提供可靠、简单的操作以及准确的测量。具有功能强大,用户界面良好,从初级水平到双重技术的可扩展型等系列产品可供选择。

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日立高新技术公司(HHT)于2017年收购了牛津仪器工业分析业务。工业分析部产品系列包含手持合金分析仪、手持式激光诱导击穿光谱仪(LIBS)和直读光谱仪(OES)。日立分析仪器将继续扩展产品线,为环境保护、食品安全和安全信息提供更好的解决方案。 苏州利博斯作为其产品的代理合作伙伴,一直以来都在深耕光谱分析仪领域,为更多的客户提供更好的分析仪器。


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